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丸長鍍金の技術情報

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054-366-3363
sagawa@marcho.com

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問題解決
・あらゆる分析から問題点を見つけ出し対策につなげます。

  • ○表面観察
  • ○断面観察
  • ○元素分析
  • ○解決策のご提案
・皮膜内異物の断面画像

物性評価
・形状測定や皮膜の分析から物性を評価致します。

  • ○膜厚測定
  • ○形状測定
  • ○評価試験
・面粗度測定器による粗さ測定

成分分析
・皮膜中元素や環境規制物質の定量分析を行います。

  • ○濃度分析
  • ○元素分析
  • ○環境対策
・皮膜内異物の断面画像

計測器一覧

測定器 メーカー 機種名 分析項目
蛍光X線膜厚測定器 フィッシャー XDLM-4 PCB めっき膜厚測定
走査電子顕微鏡(SEM) キーエンス VE-9800 金属表面観察 10-10万倍
光沢度計 日本電色 ND-11 光沢度測定
マイクロビッカース硬度計 AKASHI MVK-EⅡ マイクロビッカース硬度測定
原子吸光分析装置 日立 A-2000 定量分析
マイクロスコープ キーエンス VH-2450 20-3000倍撮影
形状測定器 ACCRETECH サーフコムVH-2450 面粗度測定
・面粗度測定
・輪郭形状測定器 輪郭形状測定
真円度計 ACCRETECH RONDCOM41C 真円度測定
保磁力計 TOHOKUスチール K-HC1000 保磁力測定
塩水噴霧試験器 スガ試験機 ISO型塩水噴霧試験器 耐食性評価

技術情報M-2016-051

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